之前我們說過，軸向薄膜電容的絕緣電阻與測試的時(shí)間的關(guān)系是軸向薄膜電容器的充電電流隨時(shí)間的增加而不斷減小的，經(jīng)過一段時(shí)間后，這個(gè)數(shù)值才會(huì)穩(wěn)定下來，這個(gè)穩(wěn)定下來的數(shù)值即漏電流（IL）。不過電容器的絕緣電阻與漏電流的關(guān)系并不是成線性關(guān)系。

  那么軸向薄膜電容的絕緣電阻有哪些因素有關(guān)呢？今天我們來說一下電容的絕緣電阻與溫度的關(guān)系。

  研究表明，軸向薄膜電容器的絕緣電阻與溫度的關(guān)系基本上與體積電阻與溫度的關(guān)系是一致的，測試電容器的絕緣電阻的溫度一般在15~25℃之間。絕緣電阻會(huì)隨著溫度的不斷升高而減小。想了解更多詳情，請撥打免費(fèi)熱線電話：400-6299-138。

  不過我們之前沒有說過什么叫做體積電阻，為了不留下疑惑，這里簡單的說明一下什么叫做體積電阻。
  所謂軸向薄膜電容器的體積電阻是指一立方厘米的電介質(zhì)對漏電電流的電阻，它的單位是歐姆·厘米。軸向薄膜電容器的電阻值是表示其使用的電介質(zhì)或絕緣材料的電性能的一個(gè)重要參數(shù)。軸向薄膜電容器的體積電阻越大，那么電容器所使用的電介質(zhì)的絕緣性能越好；也就是說，軸向薄膜電容的體積電阻越大，其絕緣電阻越大。